атомдық күш afm микроскопы
Атомдық күш микроскопы (AFM), қатты материалдардың, соның ішінде оқшаулағыштардың беткі құрылымын зерттеуге арналған аналитикалық құрал.Ол сыналатын үлгінің беті мен микрокүшті сезгіш элемент арасындағы өте әлсіз атомаралық әрекеттесуді анықтау арқылы заттың беткі құрылымы мен қасиеттерін зерттейді.Жұп әлсіз күш өте сезімтал микро-контильвер ұшы бекітіледі, шағын ұшының екінші ұшы үлгіге жақын болады, содан кейін ол онымен әрекеттеседі, күш микроконсоль деформациясын немесе қозғалыс жағдайын өзгертеді.Үлгіні сканерлеу кезінде сенсорды осы өзгерістерді анықтау үшін пайдалануға болады, біз күш ақпаратының таралуын ала аламыз, осылайша нано рұқсат ақпаратының беткі морфологиясын және бетінің кедір-бұдыры туралы ақпаратты алуға болады.
★ Біріктірілген сканерлеу зонды және үлгі саңылаулары кедергіге қарсы мүмкіндікті жақсартты.
★ Дәл лазер және зондты орналастыру құрылғысы зондты өзгертуді және нүктені реттеуді қарапайым және ыңғайлы етеді.
★ Үлгі зондының жақындау тәсілін пайдалану арқылы ине үлгіні сканерлеуге перпендикуляр болуы мүмкін.
★ Сканерлеу аймағының дәл орналасуына қол жеткізу үшін автоматты импульстік қозғалтқышты басқару үлгісі зондының тік жақындауы.
★ Үлгіні сканерлеудің қызығушылық аймағы жоғары дәлдіктегі үлгі мобильді құрылғының дизайнын пайдалану арқылы еркін жылжытылады.
★ Оптикалық позициялауы бар CCD бақылау жүйесі нақты уақыттағы бақылауға және зонд үлгісінің сканерлеу аймағының орналасуына қол жеткізеді.
★ Модульизацияны басқарудың электрондық жүйесінің дизайны техникалық қызмет көрсетуді және тізбекті үздіксіз жетілдіруді жеңілдетті.
★ Бірнеше сканерлеу режимін басқару схемасын біріктіру, бағдарламалық қамтамасыз ету жүйесімен ынтымақтасу.
★ Серіппелі суспензия, ол қарапайым және практикалық кедергіге қарсы қабілетін жақсартады.
| Жұмыс режимі | FM-Түрту, қосымша контакт, үйкеліс, фазалық, магниттік немесе электростатикалық |
| Көлемі | Φ≤90мм,H≤20мм |
| Сканерлеу диапазоны | 20 мммин XYбағыты,Z бағытында 2 мм. |
| Сканерлеу ажыратымдылығы | XY бағытында 0,2нм,Z бағытында 0,05 нм |
| Үлгінің қозғалыс диапазоны | ±6,5 мм |
| Қозғалтқыштың импульстік ені жақындайды | 10±2мс |
| Кескінді іріктеу нүктесі | 256×256,512×512 |
| Оптикалық үлкейту | 4X |
| Оптикалық рұқсат | 2,5 мм |
| Сканерлеу жылдамдығы | 0,6Гц~4,34Гц |
| Сканерлеу бұрышы | 0°~360° |
| Сканерлеуді басқару | XY бағытында 18 биттік D/A,Z бағытында 16 биттік D/A |
| Деректерді іріктеу | 14-битА/Д,double16-бит A/D көп арналы синхронды таңдау |
| Кері байланыс | DSP цифрлық кері байланыс |
| Кері байланыс таңдау жылдамдығы | 64,0 кГц |
| Компьютер интерфейсі | USB2.0 |
| Жұмыс ортасы | Windows98/2000/XP/7/8 |